Nazaj

Priprava vzorca za EM

Premium priprava vzorcev za elektronsko mikroskopijo (EM) od Leica Microsystems

Ponujeni instrumenti
Hitachi IM ArBlade 5000

Ionski rezalnik za pripravo vzorcev za SEM

Leica EM GP2

Vitrifikacija vzorcev z zamrzovanjem v tekočem etanu

Leica THUNDER Imager EM cryo CLEM

Kriogena svetlobna mikroskopija za korelacijo slik v krio-TEM

Leica STELLARIS 5 Cryo

Kriogena konfokalna mikroskopija za korelacijo slik v krio-TEM

Leica ARTOS 3D

Ultramikrotom za pripravo vzorcev za matrično tomografijo v SEM

Leica EM ICE

Visokotlačno zamrzovanje vzorcev

Leica EM VCT500

Kriogena transportna enota za krio-SEM

Leica EM ACE600

Visokavakuumsko razprševanje/parjenje s kriogeno prilagoditvijo.

Leica EM TIC 3X

Ionski polirnik za pripravo vzorcev SEM

Leica EM TP

Tkivni procesor za EM in LM

Leica EM ACE200

Nizkovakuumsko razprševanje/razprševanje

Leica EM ACE900

Kriogeni parnik za pripravo replik za TEM

Leica EM CPD300

Sušenje vzorca po metodi kritične točkeCO2

Leica EM UC7/FC7

Ultramicrotome

Leica EM KMR3

Zlomilec steklenih nožev

Leica EM AFS2

Zamenjava mraza

Leica EM RAPID

Priprava trdnih farmacevtskih vzorcev

Leica EM AC20

Automatsko kontrastiranje vzorcev za TEM

Leica EM TXP

Precizna mehanska priprava vzorcev materiala

Hitachi ZONESEM II

Čiščenje vzorca za SEM

Hitachi ZONETEM II

Čiščenje vzorca za TEM

Zastopanje proizvajalcev in naših partnerjev
Servis
Storitev Specion

Potrebujete garancijski ali pogarancijski servis?

Ponujamo servisne dejavnosti na napravah. Izvajamo nameščanje, usposabljanje, obnovo in vzdrževanje za celotno obdobje uporabe.